Similar presentations:
Розроблення моделі легування квантової точки InAs в матриці GaAs в хлоридній системі
1. Національний університет “Львівська політехніка” Інститут ТРЕ Кафедра НПЕ
Розроблення моделі легування квантової точкиInAs в матриці GaAs в хлоридній системі
Виконав: ст. гр. МНПм-21 Найда І. І.
Керівник: доц. к.т.н. Губа С.К.
Львів 2015
2. Актуальність
- Твердотільні інжекційні лазери- Резонансно-тунельний транзистор
- Одноелектронний транзистор
- Квантово-точкові кліткові автомати і
безпровідна електронна логіка
3. Методи вирощування КТ InAs
Молекулярно променева епітаксіяМОС-гідридна епітаксія
Низькотемпературна хлиридна
газофазна епітаксія
4. Проблематика вирощування КТ InAs методом низькотемпературної хлоридної епітаксії
Формування пересиченої газової фазиКоалесценція нанокластерів
Забезпечення планарності масиву КТ
InAs
5. Постановка задачі
Оптимізація формування газової фази для легування КТ InAsдомішкою Ві в багатоканальному горизонтальному
прямоточному реакторі методом низькотемпературної
хлоридниї епітаксії.
Ознайомлення з модельними уявленнями процесу росту
плівок сполук А3В5.
Аналіз модельних уявлень росту плівки InAs по відношенню
до росту плівки Ga As.
Розгляд модельних уявлень легування плівки Ga As домішкою
In.
Аналіз модельних уявлень легування масиву квантових точок
InAs домішкою Ві згідно до моделі легування плівки Ga As
домішкою In.
6. Проздовжний переріз багатоканального прямоточного горизонтального реактора та його заповнення для вирощування масивів КТ
InAs:Bi вматриці GaAs у хлоридній системі
7. Поперечний переріз багатоканального прямоточного горизонтального реактора вирощування масивів КТ InAs:Bi в матриці GaAs у
хлоридній системі8. Модельні уявлення процесу росту плівки GaAs
GaClg + 1/4As4g + 1/2H2g ↔GaAss + HCl9. Зміна швидкості росту плівки GaAs для різних значень градієнта температури
На кривих представлені результати розрахунку (суцільна лінія), експериментальнірезультати (крапки) 1 - 0 К /см, 2 - 2.5 К /cм, 3 -5 К /см [Zhilyaev Yu. V. Dissertation Ioffe
Institute, St. Peterburg (1990), Dostov V.L., Zhilyaev Yu. V., Ipatova I.P., Kulikov A.Yu. Sov. Tech. Phys. Lett. 16, 955
(1990)].
10. Модельні уявлення процесу росту плівки InAs по відношенню до росту плівки GaAs
InClg + 1/4As4g + 1/2H2g ↔InAss + HCl11. Швидкості росту плівки InAs для різних значень градієнта температури
1 - 0 К /см, 2 - 2.5 К /cм, 3 - 5 К /см12. Модельні уявлення легування плівки GaAs домішкою In
InClg + 1/4As4g + 1/2H2g ↔InAss + HCl13. Розподіл домішок по підкладці GaAs
1,2 - Розчинність домішок низька: 3 - Розчинність домішоквисока [Dostov V.L., Ipatova I.P., Kulikov A.Yu. Sov. Phys.-Tech. Phys. 35, 326 (1990)]
14. Самоорганізація КТ InAs в матриці GaAs
15. Модельні уявлення процесу легування масиву КТ InAs згідно моделі легування плівки GaAs
BiClg + 1/4As4g + 1/2H2g ↔BiAss + HClg16. Розподіл домішки Ві по масиву КТ InAs
17. Висновки
Обрано хімічні системи In-AsCl3-H2, Bi- AsCl3-He дляформування масиву КТ InAs та легування їх домішкою
Ві в прямоточному горизонтальному реакторі.
Додаткова система Ga-HCl-H2 використовується для
зарощування масиву КТ InAs легованих Ві, потрійним
твердим розчином In1-xGaxAs.
Описано процес росту плівки InAs та подальшу її
самоорганізацію в масив квантових точок InAs в
матриці GaAs.
Розроблено модель легування КТ InAs домішкою Ві в
матриці GaAs у хлоридній системі.