Similar presentations:
Тема 1. Фізичні основи роботи напівпровідникових приладів
1. Тема1 ФІЗИЧНІ ОСНОВИ РОБОТИ НАПІВПРОВІДНИКОВИХ ПРИЛАДІВ
2. 1.1. Фізичні процеси в твердих тілах
(а),(б)
(в)
Схема рівнів енергії електронів для металу (а),
діелектрика (б) та напівпровідника (в)
Ковалентний зв'язок
між атомами германiю
Площинна схема кристалічної
гратки германію
3. 1.2. Власна електронна і діркова електропровідність. Струм дрейфу
Виникнення париелектрон-дірка
I др I п.др I р.др .
Vn n .E
n Vn / E.
Енергетична структура
напівпровідника
J др J п-пр J p-пр .
J n.дд ni qeVn ,
J n.др ni qe n E.
для германію
n = 3600 і p=1820(см2/В c),
а для кремнію µn=1300 і µp = 460 (см2/В c).
4. 1.3 Домішкова електропровідність
1.3 Домішкова електропровідністьа)
Виникнення домішкової
електронної
електропровідності
n nn q e n
p p p qe p
б)
Струм в напівпровідниках з електронною (а)
і дірковою (б) електропровідністю
5. 1.4 Дифузія носіїя заряду в напівпровідниках
J n.диф qe Dn n / xJ n.диф qe D p p / x ,
Ln n Dn
Lp Dp
6. 1.5 Фізичні основи роботи електронно-діркового переходу (р-п переходу)
1.5 Фізичні основи роботи електронно-діркового переходуідр +ідиф= 0
(р-п переходу)
Ерез=Евн+Езн
φрез= φк+ Uзн.
ізв= ідр- ідиф.
Ерез=Евн-Езн.
φрез= φк - Uзн
Іпр=Ідиф –Ідр
I I 0 (e
qU
kT
T
1)
I I 0 (e
qU
kT
Зворотне вимикання
kT р-п переходу
q
1)
7.
І пр , мАGe
Si
T2 T1
8,0
7,0
6,0
T2
T2
T1
T1
5,0
4,0
3,0
2,0
1,0
U пр , B
0
0,1
Теоретична ВАХ
р-n переходу
0,2
0,3
0,4
0,5
0,6
0,7
0,8
Вольт-амперні характеристики
ідеалізованих германієвого (Ge)
і кремнієвого (Si) діодів
8.
ІпрU / T
I I 0 exp U
/ T
I пр rб
4,0
0
2,0
І0
Омічна
ділянка
Ділянка
виродження
Ів
T
6,0
Uк
ІG
Uпр
Пряма вольт-амперна характеристика
реального напівпровідникового діода
U пр U к I пр rб .
rд n p dU пр / dI пр T / I пр .
І зв
Зворотна ділянка
вольт-амперної
характеристика
реального
напівпровідникового діода
9.
U звU зв
40
UT
0
А
80
I / I0
Зворотна ділянка вольт-амперної
характеристики діода в режимі
лавинного або тунельного пробою
Iзв
Зворотна ділянка вольт-амперної
характеристики
діода в режимі теплового пробою
U t .проб 3 / Т Rt I зв
10. 1.6 Ємності n- р - переходу
1.6 Ємності n- р - переходуRн
R
L
Cбар
CB
Залежність бар'єрної ємності
від зворотної напруги
Сбар = Qзв/Uзв,
Сбар =ΔQзв/ΔUзв
Cбар Со / 1 u T
Cдиф i T
Cдиф
Схема заміщення
напівпровідникового діода
11. ТЕМА2. НАПІВПРОВІДНИКОВІ ПРИЛАДИ 2.1. Класифікація напівпровідникових приладів(НП)
ТЕМА2. НАПІВПРОВІДНИКОВІ ПРИЛАДИ2.1. Класифікація напівпровідникових
приладів(НП)
НП прилади поділяються на такі групи:
1. НП резистори;
2. НП конденсатори;
3. НП індуктивності;
4. НП діоди;
5. біполярні транзистори;
6. уніполярні (польові) транзистори;
7. тиристори;
8. інтегральні мікросхеми.
12. 2.2. Напівпровідникові резистори
Rст U dU:
const
Rд
I dI
Rт=kе β/Т
Конструкція (а) і залежність R=f(ф)
для фоторезистора (б)
13. 2.3 Напівпровідникові діоди 2.3.1 Загальна класифікація НП діодів
2.3 Напівпровідникові діоди2.3.1 Загальна класифікація НП діодів
Усі напівпровідникові діоди можна поділити на дві групи:
загального та спеціального призначення.
Типи напівпровідникових діодів:
•випрямні,
•високочастотні,
•імпульсні,
•стабілітрони,
•варикапи,
•тунельні.
14.
15. 2.3.4 Напівпровідникові випрямні діоди
2.3.4 Напівпровідникові випрямні діодиа
б
16. 2.3.2 Напівпровідникові стабілітрони
2.3.2 Напівпровідниковістабілітрони
.
Основними параметрами стабілітрона є
напруга стабілізації Uст,
мінімальний струм стабілізаціїІст.мін
максимальний струм стабілізації Іст.макс.
динамічний опір,
U ст
RД
І ст
17. 2.3.5 Варикапи
2.3.5 ВарикапиДо основних паpаметрів варикапа належать:
•мінімальна та максимальна ємності Сmin і Сmax;
•коефіцієнт перекриття ємності kc=Cmax/Cmin,
•добротність Qв.
18. 2.3.6 Тунельні діоди
До основних параметрів тунельних діодів належать:– піковий струм Iп
– прямий струм у точці максимуму вольт-амперної характеристики;
– напруга піка Uп – пряма напруга, яка відповідає піковому струмові;
– напруга западини Uв – пряма напруга, яка відповідає мінімальному
струмові;
– напруга розкривання Uрр – пряма напруга на другій зростаючій
гілці при струмі, який дорівнює піковому;
– ємність Cд – сумарна ємність, виміряна між виводами діода.