Электронная микроскопия. Сканирующий микроскоп

1. МИНИСТЕРСТВО ОБРАЗОВАНИЯ И НАУКИ РОССИЙСКОЙ ФЕДЕРАЦИИ Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего

профессионального образования
«Кемеровский государственный университет»
«Институт биологии, экологии и природных ресурсов»
Реферат
По дисциплине «цитология»
На тему: «Электронная микроскопия. Сканирующий микроскоп»
Выполнил(а):
Студент(ка) группы Б-171
Полищук К.С.
Чернухина С.А.
Проверила:
доцент
Мейер Алина Викторовна
Кемерово 2018

2. Электронная микроскопия

Электронная микроскопия — это метод
исследования структур, находящихся вне
пределов видимости светового микроскопа и
имеющих размеры менее одного микрона (от 1
мк до 1—5 Å).
В настоящее время широко используется в:
• цитологии
• микробиологии
• вирусологии
Рис.1. Электронный микроскоп 70-х
годов прошлого века

3.

Рис.2. Семечка кунжута в электроном
микроскопе (300 мкм)
Рис.3. Игла кактуса в электроном
микроскопе (3 мкм)

4. Сканирующий микроскоп

Растровый (или сканирующий) электронный микроскоп,
или сокращенно РЭМ
(англ. Scanning Electron Microscope - SEM), предназначен
для получения изображения поверхности объекта с
высоким (до 0,4 нм)
пространственным разрешением, информации о составе,
строении и некоторых других свойствах
приповерхностных слоёв.
Увеличение от 10 до 1000000 крат, что приблизительно в
500 раз превышает предел увеличения
лучших оптических микроскопов.

5.

Рис.4. Строение
микроскопов

6.

Рис.5. Сканирующий
электронный микроскоп
(SEM) Amray 1810
Рис.6. Современный сканирующий
электронный микроскоп

7. Сканирующий микроскоп

В 1938 году немецкий специалист Манфред
фон Арденне построил первый сканирующий
электронный микроскоп.
В 1942 году, русский эмигрант, физик и
инженер Владимир Зворыкин, опубликовал
детали первого сканирующего электронного
микроскопа.
Рис.7. Манфред фон
Арденне
1965 году фирмой «Cambridge Instrument Co.»
был выпущен первый
коммерческий сканирующий электронный
микроскоп — Stereoscan.
Рис.8. Владимир
Зворыкин

8.

Рис.9. Изображение с
современного сканирующего
микроскопа
Рис.10. Изображение с
современного сканирующего
микроскопа

9. Виды сканирующих микроскопов

Сканирующий зондовый микроскоп (SPM)
Сканирующий атомно-силовой микроскоп (AFM, SPM)
Сканирующий туннельный микроскоп (STM)
Сканирующий электронный микроскоп (SEM)
Сканирующий емкостной микроскоп (SCM)
Микроскоп ближнего поля (SNOM)

10. Спасибо за внимание