Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
Условие дифракционного предела
Ближнепольный оптический микроскоп (БОМ) был изобретен группой исследователей во главес Дитером Полем (лаборатория фирмы IBM,
Certus NSOM - сканирующий оптический микроскоп ближнего поля
Схема получения ближнепольного оптического изображения в точке с использованием апертуры.
Различные методики ближнепольной оптической микроскопии с использованием апертуры.
Режим облучения зондом
Режим просачивания
Схема кварцевого камертонного резонатора (tuning-fork), используемого для поддержания обратной связи.
Сканирующий ближнепольный оптический микроскоп Certus NSOM.
Принцип работы СБОМ микроскопа
1.95M
Category: electronicselectronics
Similar presentations:
Инструменты нанотехнологий. Сканирующая зондовая микроскопия
Инструменты нанотехнологий. Сканирующая зондовая микроскопия
Микроскоп. Виды микроскопов
Микроскоп. Виды микроскопов
Сканирующая электронная микроскопия
Сканирующая электронная микроскопия
Виды микроскопов
Виды микроскопов
Электронный микроскоп
Электронный микроскоп
Методы сканирующей зондовой микроскопии
Методы сканирующей зондовой микроскопии
Настройка лазерного сканирующего конфокального микроскопа
Настройка лазерного сканирующего конфокального микроскопа
Основы лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
Основы лазерной сканирующей конфокальной микроскопии
Методы сканирующей зондовой микроскопии. Электросиловая микроскопия. Тема 4
Методы сканирующей зондовой микроскопии. Электросиловая микроскопия. Тема 4
Сканирующий тахеометр Trimble SX10
Сканирующий тахеометр Trimble SX10

Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия

1. Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия

2. Условие дифракционного предела

English     Русский Rules