Similar presentations:
Использование полупроводниковых фотоприемников в космической технике
1. Использование полупроводниковых фотоприемников в космической технике
Сообщение подготовили:Лейферов Борис Михайлович, кандидат физикоматематических наук, генеральный директор ООО«АУНИВЕРСАЛ КОНСАЛТИНГ»
Цуцманова Наталья Андреевна, ассистент консультанта
2. Дистанционное зондирование Земли
Рисунок 1 – Дистанционное зондирование Земли2
3. Окна прозрачности в атмосфере
Явление обусловлено, в основном, воздействием молекулярногопоглощения атмосферы.
Поглощение ИК-излучения на многих участках спектра практически
полное. Поэтому говорят о прохождении ИК-излучения в атмосфере
только в некоторых окнах прозрачности. «Окнам «соответствуют
интервалы длин волн ИК-излучения:
=0,95 – 1,05 мкм;
=1,15 – 1,35 мкм;
=1,5 – 1,8 мкм;
=2,1 – 2,4 мкм;
=3,3 – 4,2 мкм;
=4,5 – 5,1 мкм;
=8 – 13 мкм.
Рисунок 2 – Спектр пропускания земной атмосферы
3
4. Строение кристаллической решетки Si
Рисунок 4 – Схема включения донорной примесиРисунок 3 – Схематическое
изображение кристаллической
решетки кремния (Si) [1]
4
5. Оптические переходы в полупроводниках
Рисунок 5 – Оптические переходы вполупроводниках
5
6. Ширина защищенной зоны полупроводниковых материалов
ПолупроводникGaP
Eg (температура), ЭВ
2,259 (300 K)
GaAs
1,435 (300 K); 1,521 (10K)
InAs
Si
0,359 (300 K); 0,42 (4,2 K)
Ge
1,12 (300 K); 1,166 ( 4,2 K)
0,744 (4,2 K)
6
7. Строение зонной структуры основных полупроводниковых материалов
Рисунок 6 – Структура энергетических зон Ge, Si, GaAs7
8. Зонная структура раствора CdHgTe
Рисунок 7 – Ширина запрещенной зоны в зависимости отсостава Hg/CdTe при 300K [2]
8
9. Фотоприемники на основе ПЗС
Рисунок 9 – Матричный ПЗС сострочным переносом (схема
подключения)
Рисунок 8 – Матричный ПЗС со строчным
переносом
9
10. Список источников
1 Левинштейн М.Е., Симин Г.С. Знакомство сполупроводниками / Под ред. Л.Г. Асламазова. – М.:
Наука, 1984.
2 Мосс Т., Баррел Г., Эллис Б. Полупроводниковая
оптоэлектроника М.: Мир, 1976
10
11.
Спасибо за внимание!11