Нанотехнологии и микромир

1.

НАНОТЕХНОЛОГИИ И
МИКРОМИР
ИЗУЧЕНИЕ, ИССЛЕДОВАНИЕ, ТВОРЧЕСТВО

2.

СЭМ – сканирующий электронный микроскоп
Оптический микроскоп

3.

Атомно-силовой микроскоп

4.

5.

6.

7.

8.

9.

НАУЧИМСЯ:
1. ПОЛУЧЕНИЕ ПЕРВОГО СЗМ ИЗОБРАЖЕНИЯ
2. ОБРАБОТКА И КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЗМ ИЗОБРАЖЕНИЙ
3. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ ТВЕРДЫХ ТЕЛ ПОЛУКОНТАКТНЫМ МЕТОДОМ
АТОМНО-СИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
4. АРТЕФАКТЫ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ
5. ИЗГОТОВЛЕНИЕ ЗОНДОВ ДЛЯ СЗМ МЕТОДОМ ЭЛЕКТРОХИМИЧЕСКОГО
ТРАВЛЕНИЯ

10.

ПРИМЕРНЫЕ ТЕМЫ:
1. ПОЛУЧЕНИЕ ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОЛИМЕРНОЙ ПЛЁНКИ
2. ОБРАБОТКА И КОЛИЧЕСТВЕННЫЙ АНАЛИЗ СЗМ ИЗОБРАЖЕНИЯ ПОЛИМЕРНОЙ ПЛЁНКИ
3. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЁНОК ПОЛУКОНТАКТНЫМ МЕТОДОМ АТОМНОСИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
4. ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЁНОК ПОЛУКОНТАКТНЫМ МЕТОДОМ АТОМНОСИЛОВОЙ МИКРОСКОПИИ
5. АРТЕФАКТЫ В СКАНИРУЮЩЕЙ ЗОНДОВОЙ МИКРОСКОПИИ ПРИ ПОЛУЧЕНИИ ИЗОБРАЖЕНИЙ
ПОЛИМЕРНЫХ ПЛЁНОК ПОЛУКОНТАКТНЫМ МЕТОДОМ